Naviga per Autore CANESTRARI, Rodolfo
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext |
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2005 | X-ray and topographic characterization of a W/Si graded multilayer coated mirror shell (n.333) at PANTER facility (april 2005 | SPIGA, Daniele ; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Vernani, D.; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; BASSO, Stefano ; Mazzoleni, Francesco, et al | none |
2007 | X-ray optic 346 manufactured at MSFC and Harvard-CfA: results of tests at PANTER facility and surface characterization | SPIGA, Daniele ; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; BASSO, Stefano ; Bruni, R.; Burkert, W.; Budau, B.; Freyberg, M.; Gorenstein, P.; Hartner, G., et al | none |
2009 | X-ray tests at PANTER on Nickel-Cobalt EM#3 (phase A) SIMBOL-X optic prototype | SPIGA, Daniele ; Freyberg, M.; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Mattarello, V.; Garoli, D.; Boscolo Marchi, E.; BASSO, Stefano ; Valtolina,Renzo, et al | none |
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