PARESCHI, Giovanni
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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41 | 2006 | Characterization of a PECVD-SiC replicated mirror sample | CANESTRARI, Rodolfo ; VALTOLINA, RENZO; SPIGA, Daniele ; PARESCHI, Giovanni | none |
42 | 2008 | Calibration of SIMBOL-X optics at PANTER facility: proposed setup and hardware implementation | SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; PARESCHI, Giovanni ; Malaguti, P.; Freyberg, M.; Briel, U. | none |
43 | 2018 | BEaTriX: vibrations campaign on the laboratory ground | SALMASO, Bianca ; SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; GIRO, Enrico ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
44 | 2017 | BEaTriX X-ray facility for testing ATHENA mirror modules: a white paper for the implementation | SPIGA, Daniele ; PARESCHI, Giovanni ; SALMASO, Bianca ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
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