TAGLIAFERRI, Gianpiero
Serie
Fulltext
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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1 | 2019 | VERT-X: VERTical X-ray raster-scan facility for ATHENA calibration. The concept design | MORETTI, Alberto ; PARESCHI, Giovanni ; USLENGHI, MICHELA ; Tordi, Massimiliano; Bressan, Riccardo; Valsecchi, Giuseppe; Zocchi, Fabio E.; ATTINA', PRIMO ; Amisano, Franco; SIRONI, GIORGIA ; SALMASO, Bianca ; BASSO, Stefano ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; SPIGA, Daniele ; LA PALOMBARA, NICOLA ; FIORINI, MAURO ; Dury, Francois; Marioni, Fabio; Parissenti, Guido; Parodi, Giancarlo; Wille, Eric; Corradi, Paolo; Bavdaz, Marcos; Ferreira, Ivo | open |
2 | 2010 | X-ray tests at PANTER on the TDM2 optic prototype for the New Hard X-ray Mission | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; SALMASO, Bianca ; Valsecchi, Giuseppe; Orlandi, A.; Borghi, G.; Binda, R.; BASSO, Stefano ; Borrelli, D.; Marioni, F.; Ferretti, L.; Freyberg, M.; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni | none |
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