SALMASO, Bianca
Fulltext
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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1 | 2011 | Hard X-ray mirrors for NHXM: reflectivity and roughness characterization of mirror shell samples | SALMASO, Bianca ; Raimondi, L.; Negri, R.; SPIGA, Daniele ; Binda, R.; Orlandi, A.; Valsecchi, Giuseppe | none |
2 | 2011 | High-resolution X-ray scattering measurement of slumped glasses | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; SALMASO, Bianca ; CIVITANI, Marta Maria ; Pagano, G.; BASSO, Stefano ; GHIGO, Mauro ; PROSERPIO, Laura | none |
3 | 2011 | IXO slumped glasses D5 and D7: analysis of spatial wavelength impact on the Point Spread Function by means of the Fresnel diffraction | Raimondi, L.; SPIGA, Daniele ; SALMASO, Bianca ; CIVITANI, Marta Maria ; Pagano, G.; BASSO, Stefano ; GHIGO, Mauro ; PROSERPIO, Laura | none |
4 | 2010 | Reflectivity and stress characterization of W/Si and Pt/C multilayer samples for the New Hard X-ray Mission phase B development | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; SALMASO, Bianca ; Negri, R. | none |
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