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http://hdl.handle.net/20.500.12386/2081
Titolo: | ESA Silicon Substrate Microroughness Chracterization | Autori: | Vernani, D. Mazzoleni, Francesco SPIGA, Daniele PARESCHI, Giovanni Citterio, Oberto |
Data pubblicazione: | 2005 | Serie: | OAB Technical Reports | Numero: | 01/2005 | URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12386/2081 | Fulltext: | none |
È visualizzato nelle collezioni: | 4.02 Rapporti tecnici pregressi |
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