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http://hdl.handle.net/20.500.12386/2129
Titolo: | AFM analysis of test wafers coated with Cr-Ni-Au layers: roughness characterization | Autori: | SALMASO, Bianca SPIGA, Daniele |
Data pubblicazione: | 2012 | Serie: | OAB Technical Reports | Numero: | 01/2012 | URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12386/2129 | Fulltext: | none |
È visualizzato nelle collezioni: | 4.02 Rapporti tecnici pregressi |
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