Naviga per Autore Citterio, Oberto
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext |
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2005 | X-ray and topographic characterization of a W/Si graded multilayer coated mirror shell (n.333) at PANTER facility (april 2005 | SPIGA, Daniele ; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Vernani, D.; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; BASSO, Stefano ; Mazzoleni, Francesco, et al | none |
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