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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext |
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2011 | Hard X-ray mirrors for NHXM: reflectivity and roughness characterization of mirror shell samples | SALMASO, Bianca ; Raimondi, L.; Negri, R.; SPIGA, Daniele ; Binda, R.; Orlandi, A.; Valsecchi, Giuseppe | none |
2013 | Profile and roughness metrology of slumped glasses for the "IXO back-up optics" project | SPIGA, Daniele ; PROSERPIO, Laura; SALMASO, Bianca ; GHIGO, Mauro ; Friedrich, P.; Vongehr, M.; Winter, A.; BASSO, Stefano ; CIVITANI, Marta Maria ; Gallieni, D., et al | none |
2010 | Reflectivity and stress characterization of W/Si and Pt/C multilayer samples for the New Hard X-ray Mission phase B development | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; SALMASO, Bianca ; Negri, R. | none |
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