Journal OAB Technical Reports
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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1 | 2014 | Electroformed nickel samples for the polarimetric LAMP X-ray telescope: sample roughness characterization | Tayabaly, K.; SPIGA, Daniele ; SALMASO, Bianca ; Valsecchi, Giuseppe; Banham, R.; Missaglia, N.; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
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