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4.02 Rapporti tecnici pregressi
Electroformed nickel samples for the polarimetric LAMP X-ray telescope: sample roughness characterization
Electroformed nickel samples for the polarimetric LAMP X-ray telescope: sample roughness characterization
Date Issued
2014
Author(s)
Tayabaly, K.
•
SPIGA, Daniele
•
SALMASO, Bianca
•
Valsecchi, Giuseppe
•
Banham, R.
•
Missaglia, N.
•
PARESCHI, Giovanni
•
TAGLIAFERRI, Gianpiero
Series
OAB Technical Reports
Volume
05/2014
Uri
http://hdl.handle.net/20.500.12386/2152
Url
https://tinyurl.com/oab-tr05-2014
Rights
metadata.only