TAGLIAFERRI, Gianpiero
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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1 | 2017 | BEaTriX X-ray facility for testing ATHENA mirror modules: a white paper for the implementation | SPIGA, Daniele ; PARESCHI, Giovanni ; SALMASO, Bianca ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
2 | 2018 | BEaTriX: vibrations campaign on the laboratory ground | SALMASO, Bianca ; SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; GIRO, Enrico ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
3 | 2014 | Electroformed nickel samples for the polarimetric LAMP X-ray telescope: sample roughness characterization | Tayabaly, K.; SPIGA, Daniele ; SALMASO, Bianca ; Valsecchi, Giuseppe; Banham, R.; Missaglia, N.; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
4 | 2013 | Extending the INAF/OAB Ultraviolet Vertical Optical Bench to a 20 m focal length | SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; CIVITANI, Marta Maria ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; Ferrario, I. | none |
5 | 2015 | Mirror module design for BICE X-ray telescopes | SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; Citterio, Oberto; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; Bianucci, G.; Valsecchi, Giuseppe | none |
6 | 2018 | New input for the assessment of the BEaTriX design | SALMASO, Bianca ; SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; Pelliciari, Carlo; GIRO, Enrico ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
7 | 2018 | Optical simulations for the BEaTriX X-ray facility: a brief performance and alignment tolerance study | SPIGA, Daniele ; SALMASO, Bianca ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni ; Pelliciari, Carlo | none |
8 | 2013 | Profile and roughness metrology of slumped glasses for the "IXO back-up optics" project | SPIGA, Daniele ; PROSERPIO, Laura; SALMASO, Bianca ; GHIGO, Mauro ; Friedrich, P.; Vongehr, M.; Winter, A.; BASSO, Stefano ; CIVITANI, Marta Maria ; Gallieni, D.; Tintori, M.; SIRONI, GIORGIA ; Pagano, G.; Negri, R.; Rossi, Massimiliano; Alpini, A.; Cavenaghi, T.; Zambra, A.; Ferrario, I.; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
9 | 2014 | Proof of Concept No. 2 optic with slumped glasses: tests in focus at PANTER | SPIGA, Daniele ; CIVITANI, Marta Maria ; Burwitz, Vadim; Burkert, W.; Menz, B.; Hartner, G.; SALMASO, Bianca ; BASSO, Stefano ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; GHIGO, Mauro | none |
10 | 2017 | Specifications for the enhanced X-ray Timing Polarimeter (eXTP) | SPIGA, Daniele ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni ; Feroci, M. ; Santangelo, A. | none |
11 | 2018 | X-ray simulations of the ASPHEA MM#1 mirror module assembly tested at PANTER | SPIGA, Daniele ; Valsecchi, Giuseppe; Marioni, F.; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
12 | 2009 | X-ray tests at PANTER on Nickel-Cobalt EM#3 (phase A) SIMBOL-X optic prototype | SPIGA, Daniele ; Freyberg, M.; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Mattarello, V.; Garoli, D.; Boscolo Marchi, E.; BASSO, Stefano ; Valtolina,Renzo; Mattaini,Enrico; CANESTRARI, Rodolfo ; Garegnani, Donato; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni ; MORETTI, Alberto | none |
13 | 2008 | X-ray tests at PANTER on the EM#2 SIMBOL-X optic (phase A)X-ray tests at PANTER on the EM#2 SIMBOL-X optic (phase A) | SPIGA, Daniele ; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
14 | 2008 | X-ray tests at PANTER on the optic 291+295 prototype (EM#1) for the phase A of SIMBOL-X | SPIGA, Daniele ; Dell'Orto, E.; Freyberg, M.; Hartner, G.; Budau, B.; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
15 | 2010 | X-ray tests at PANTER on the TDM1 optic prototype for the New Hard X-ray Mission | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; Valsecchi, Giuseppe; Orlandi, A.; Borghi, G.; Salmaso, G.; Marchi, E. B.; Binda, R.; BASSO, Stefano ; Marioni, F.; Ferretti, L.; Freyberg, M.; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; SIRONI, GIORGIA ; Missaglia, N.; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni | none |
16 | 2010 | X-ray tests at PANTER on the TDM2 optic prototype for the New Hard X-ray Mission | SPIGA, Daniele ; Raimondi, L.; SALMASO, Bianca ; Valsecchi, Giuseppe; Orlandi, A.; Borghi, G.; Binda, R.; BASSO, Stefano ; Borrelli, D.; Marioni, F.; Ferretti, L.; Freyberg, M.; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; PARESCHI, Giovanni | none |
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