SALMASO, Bianca
Serie
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
---|---|---|---|---|
41 | 2012 | AFM analysis of test wafers coated with Cr-Ni-Au layers: roughness characterization | SALMASO, Bianca ; SPIGA, Daniele | none |
42 | 2015 | Acceptance tests and calibration of the Explorer Atomic Force Microscope new head | SALMASO, Bianca ; SPIGA, Daniele | none |
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