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4.02 Rapporti tecnici pregressi
AFM analysis of test wafers coated with Cr-Ni-Au layers: roughness characterization
AFM analysis of test wafers coated with Cr-Ni-Au layers: roughness characterization
Date Issued
2012
Author(s)
SALMASO, Bianca
•
SPIGA, Daniele
Series
OAB Technical Reports
Volume
01/2012
Uri
http://hdl.handle.net/20.500.12386/2129
Rights
metadata.only