Naviga per Autore Valtolina, Renzo
Mostrati i risultati da 2 a 3 di 3
< precedente
Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext |
---|---|---|---|
2007 | Results of tests performed at PANTER and INAF/OAB on the X-ray optic 349 manufactured at MSFC and Harvard-CfA | SPIGA, Daniele ; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; BASSO, Stefano ; Bruni, R.; Budau, B.; Burkert, W.; Colombo, D.; Destefanis, G.; Freyberg, M., et al | none |
2005 | X-ray and topographic characterization of a W/Si graded multilayer coated mirror shell (n.333) at PANTER facility (april 2005 | SPIGA, Daniele ; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Vernani, D.; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; BASSO, Stefano ; Mazzoleni, Francesco, et al | none |
Mostrati i risultati da 2 a 3 di 3
< precedente
Fatto con DSpace-CRIS -
Estensione mantenuta e ottimizzata da