PARESCHI, Giovanni
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Data pubblicazione | Titolo | Autore/i | Fulltext | |
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1 | 2005 | X-ray and topographic characterization of a W/Si graded multilayer coated mirror shell (n.333) at PANTER facility (april 2005 | SPIGA, Daniele ; Burkert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; Vernani, D.; CANESTRARI, Rodolfo ; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; BASSO, Stefano ; Mazzoleni, Francesco; VALTOLINA, RENZO | none |
2 | 2013 | Profile and roughness metrology of slumped glasses for the "IXO back-up optics" project | SPIGA, Daniele ; PROSERPIO, Laura; SALMASO, Bianca ; GHIGO, Mauro ; Friedrich, P.; Vongehr, M.; Winter, A.; BASSO, Stefano ; CIVITANI, Marta Maria ; Gallieni, D.; Tintori, M.; SIRONI, GIORGIA ; Pagano, G.; Negri, R.; Rossi, Massimiliano; Alpini, A.; Cavenaghi, T.; Zambra, A.; Ferrario, I.; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; TAGLIAFERRI, Gianpiero | none |
3 | 2006 | Mirror shell 338 (Jet-X mandrel n.1 sized shell):Achieved tests at Panter facility and INAF/OAB | SPIGA, Daniele ; CANESTRARI, Rodolfo ; Vernani, D.; Freyberg, M.; Bukert, W.; Hartner, G.; Budau, B.; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto; BASSO, Stefano ; Mazzoleni, Francesco | none |
4 | 2015 | Mirror module design for BICE X-ray telescopes | SPIGA, Daniele ; BASSO, Stefano ; Citterio, Oberto; PARESCHI, Giovanni ; TAGLIAFERRI, Gianpiero ; Bianucci, G.; Valsecchi, Giuseppe | none |
5 | 2005 | ESA Silicon Substrate Microroughness Chracterization | Vernani, D.; Mazzoleni, Francesco; SPIGA, Daniele ; PARESCHI, Giovanni ; Citterio, Oberto | none |
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